最大水平扫描范围： 90um×90um；最大垂直扫描范围： 10um；最高水平分辨率： 0.1nm；最高Z方向分辨率： 0.05nm。

Dimension Icon扫描探针显微镜可用于金属、聚合物、半导体、生物、配位化学物、陶瓷、无机化合物、有机物等纳米材料表面形貌、纳米薄膜粗糙度研究，纳米材料粒径测量；Dimension Icon还配备了专利的ScanAsyst自动成像参数优化技术，使得用户可以更容易。更快速的获得一致性更好的数据。可用于纳米材料表面形貌、纳米薄膜粗糙度研究，纳米材料粒径测量、纳米复合材料相组成研究及复合材料界面研究与纳米器件研究，实时生物表面活性、生物结构与功能的关系研究。

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