分辨率： 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV 放大倍数：×12-×2000000 加速电压：调整范围：0.02-30 kV（无需减速模式实现） 样品室： 330 mm（φ），270 mm（h） 样品台：5轴优中心全自动 X=130mm Y=130mm Z=50 mm T=-3ｏ-70ｏ R=360ｏ 连续

GeminiSEM 300可用于金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料以及生物材料等的显微形貌分析研究。GeminiSEM系列具有完整高效的检测系统、极高的分辨率以及简便的操作方式。Gemini物镜设计将静电场与磁场结合，可在最大限度地提升光学性能的同时将场发射对样品的损伤降至最低。此设计确保了极佳的成像质量，即使是较具挑战性的磁性材料也同样可以达到良好的成像效果。

能谱探头

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